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[Choi]

현재 FDTD를 사용하여 silicon nanowire array의 optical spectrum을 관찰하고 있습니다.

질문드리고 싶은 부분은 silicon nanowire array의 pitch를 조절할 때 FDTD x & y span을 통해 조절하고 있습니다.

그런데 wire pitch와 동일한 wavelength에서는, 아래의 그림과 같이 인위적인 spectrum이 관찰되고 있습니다.

[Dong Sub Shin]

@choi,안녕하세요

인위적이라고 말씀하신 부분이 해당 스팩트럼이 안나와야 하는지 아니면 스팩트럼 그래프 곡선 모양이 예상하신 것과 다른건지 구체적인 설명이 있었으면 좋겠습니다.

그리고, BC 조건을 첨부하여 주셨는데 BC의 Geometry등의 정보가 더 있으면 답변을 드리는데 도움이 될 것 같습니다.

감사합니다.

[Choi]

예상과 다르다기보단, 특정 파장 영역에서만 noise가 굉장히 심하게 보입니다.
쉽게 말해, 빨간색 박스 안의 spectrum이, 빨간색 박스 외의 spectrum보다 noise가 심하게 보입니다.
그런데 Noise가 발생하는 파장과 FDTD x & y span과 동일하다는 것입니다.
FDTD x& y span을 500 nm로 설정할 경우, 500 nm 파장 영역에서만 Noise가 특히 심해집니다.

아래 BC의 geometery 정보를 첨부하여 드립니다.


감사합니다.

[Dong Sub Shin]

안녕하세요,

특정 파장대에서 이 현상이 발생을 하기 때문에 아래의 부분에 대한 확인이 필요해 보입니다.

Tips for improving the quality of optical material fits – Lumerical Support